產(chǎn)品[
JR25三維表面形貌儀
]資料
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產(chǎn)品名稱(chēng):
JR25三維表面形貌儀
產(chǎn)品型號(hào):
JR25型
產(chǎn)品廠商:
美國(guó)NANOVEA
產(chǎn)品文檔:
無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
JR25型三維表面形貌儀是一款便攜式表面形貌測(cè)量?jī)x，采用白光共聚焦技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)對(duì)材料表面從納米到毫米量級(jí)的粗糙度測(cè)試，具有測(cè)量精度高，速度快，重復(fù)性好的優(yōu)點(diǎn)，該儀器的測(cè)量探頭可以任意旋轉(zhuǎn)，適合精密測(cè)量 不可移動(dòng)樣品表面形貌，同時(shí)適合進(jìn)行野外測(cè)試。
JR25三維表面形貌儀 的詳細(xì)介紹
產(chǎn)品特性
采用白光共聚焦色差技術(shù)，可獲得納米級(jí)的分辨率
測(cè)量具有非破壞性，測(cè)量速度快，精度高
測(cè)量范圍廣，可測(cè)透明、金屬材料，半透明、高漫反射，低反射率、拋光、粗糙材料(金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學(xué)材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發(fā)、牙齒…)；
尤其適合測(cè)量高坡度高曲折度的材料表面
不受樣品反射率的影響
不受環(huán)境光的影響
Z方向,測(cè)量范圍大：為27mm
掃描范圍：25×25（mm）
掃描步長(zhǎng)：0.1μm
掃描速度：20mm/s
Z方向測(cè)量范圍：27mm
Z方向測(cè)量分辨率：3nm
產(chǎn)品應(yīng)用
MEMS、半導(dǎo)體材料、太陽(yáng)能電池、醫(yī)療工程、制藥、生物材料，光學(xué)元件、陶瓷和先進(jìn)材料的研發(fā)。
